HM-Leaklab-150 — Анализатор остаточных газов для повышенного давления

Анализатор для мониторинга процессов PVD и условий с повышенным давлением газа. Рабочее давление составляет до 2 Па, варианты диапазона масс 1–50 и 1–100 а.е.м., минимальное обнаруживаемое парциальное давление 2·10⁻⁹ Па. Поддерживаются сканирование спектра и выбранных масс, определение H₂, He, N₂, O₂ и Ar, интеграция через API и сигнализация отклонений.

HM-Leaklab-150 — Анализатор остаточных газов для повышенного давления
HM-Leaklab-150

Назначение и принцип работы

Анализатор для мониторинга процессов PVD и условий с повышенным давлением газа. Рабочее давление составляет до 2 Па, варианты диапазона масс 1–50 и 1–100 а.е.м., минимальное обнаруживаемое парциальное давление 2·10⁻⁹ Па. Поддерживаются сканирование спектра и выбранных масс, определение H₂, He, N₂, O₂ и Ar, интеграция через API и сигнализация отклонений.

Характеристики исполнения

Комплектацию и параметры заказываемого исполнения согласуют при подборе.

Подбор исполнения и интеграция

При подборе определяют объём изделия, испытательное давление, допустимую утечку, время цикла, способ соединения и требования к регистрации результатов. Предел обнаружения прибора не является допустимой утечкой изделия. Состав стенда и оснастку согласуют под технологический процесс.

Подобрать оборудование и установку

HM-Leaklab-150 — Анализатор остаточных газов для повышенного давления

Контроль потерь качества на производственной линии

Работа при повышенном давлении — новый уровень контроля качества

Диапазон применимых давлений: 0,01–2 Па

Принцип работы и возможности

  • Максимальное рабочее давление — 2 Па. Укороченный путь передачи ионов снижает потери при столкновениях и обеспечивает работу при более высоком давлении.
  • Минимальное обнаруживаемое парциальное давление — 2·10⁻⁹ Па. Позолоченный металлический квадруполь, цилиндр Фарадея и микроканальный детектор обеспечивают обнаружение малых парциальных давлений.
  • Максимальная скорость сканирования — 3 мс на точку. Быстрая регистрация изменений процесса без пропуска данных.
  • Двойная защита: иридиевые/вольфрамовые нити и устойчивость к загрязнению для стабильной работы основных узлов.
  • Собственная разработка основных технологий и локальная поддержка, заявленные производителем; комплексное решение с самостоятельно разработанными компонентами.
  • Интеллектуальный контроль и предупреждения: интеграция через API, автоматический мониторинг и регистрация парциальных давлений для цифровой производственной линии.
  • Точное разделение: позолоченный металлический квадруполь для воспроизводимого разрешения и согласованности характеристик.

Области применения

  • Полупроводники: PVD, ALD, CVD
  • Производство фотоэлектрических элементов
  • Испарительное нанесение органических OLED-материалов
  • Оптические и оптоэлектронные покрытия
  • Аккумуляторы и новые энергетические материалы
  • Вакуумная пайка и спекание

Технические характеристики из графической таблицы

ПараметрЗначение
НаименованиеАнализатор остаточных газов для повышенного давления
Габариты Д × Ш × В320 × 240 × 120 мм
Электропитание220 В переменного тока, 50 Гц, 1 А; или 24 В постоянного тока, 5 А
Масса1,2 кг
Рабочее давление<2 Па
Диапазон масс1–100 а.е.м.
Разрешение на уровне 10 % высоты пика<1 а.е.м.
Чувствительность1·10⁻⁵ А/мбар (FC); 1·10⁻² А/мбар (MCP)
Минимальное обнаруживаемое парциальное давление2·10⁻⁷ Па (FC); 2·10⁻⁹ Па (MCP)
Тип детектораЦилиндр Фарадея (FC); микроканальная пластина (MCP)

а.е.м. — атомная единица массы, Торр — единица давления, FC — цилиндр Фарадея, MCP — микроканальная пластина, EM — электронный умножитель. Чувствительность в А/Торр или А/мбар характеризует токовый отклик анализатора и не является потоком утечки. Условия прогрева и температурные пределы разных узлов уточняют в руководстве. Условия обслуживания согласуют при выборе оборудования.

Написать по email

Выбранное оборудование