Электронная микроскопия и подготовка образцов. Дополнительное приборное направление для исследования поверхностей, материалов и причин дефектов.
Содержание карточки
Микроскопия и тонкие плёнки
Дополнительное приборное направление для исследования поверхностей, материалов и причин дефектов.
| Оборудование | Назначение | Состав подбора |
|---|---|---|
| KYKY EM-6900 | Сканирующая электронная микроскопия | Конфигурация колонны, детекторов и камеры |
| KYKY EM-8000 / 8100 / 8200 / 8300 | Исследовательские задачи различной сложности | Образцы, разрешение и аналитические опции |
| Xplore 30 | Энергодисперсионный анализ | Совместимость с СЭМ и программным обеспечением |
| Система EBSD | Дифракция обратно рассеянных электронов | Геометрия образца, подготовка и аналитическая задача |
| SBC-12 / SBC-16 | Нанесение покрытий на образцы | Материал мишени, камера и технологический режим |
Задачи материаловедения
Микроскопия дополняет контроль герметичности при анализе трещин, пористости, разрушения покрытий и состояния уплотняющих поверхностей. Изображение дефекта само по себе не определяет поток утечки: для приёмки изделия сохраняется выбранный метод испытаний на герметичность.
Что указать для предложения
Материал и размеры образцов, электропроводность, интересующий масштаб структуры, необходимость элементного анализа, видимость лёгких элементов и требования к подготовке. Для установки уточняют помещение, электропитание, вибрации, охлаждение и эксплуатационные материалы.
Параметры СЭМ и аналитических детекторов фиксируют по конкретной конфигурации. Ликлаб согласует состав оборудования и принадлежностей под задачу исследования.
KYKY: электронная микроскопия и пробоподготовка
Образец определяет конфигурацию
Для EM8000, EM8300 и других систем уточняют материалы, размер образца, необходимое разрешение и режимы регистрации. Проводимость поверхности и склонность к зарядке влияют на подготовку. Установку для учебных задач и систему для исследовательского анализа комплектуют по разным сценариям.
Элементный анализ
EDS является отдельной функцией и требует согласованного детектора, программного обеспечения и геометрии. Заявление о наличии микроскопа не означает включение всех аналитических опций. Для количественного анализа учитывают подготовку поверхности, перекрытие линий и метод калибровки.
Помещение и расходные материалы
До поставки проверяют электропитание, вибрации, электромагнитные помехи и условия окружающей среды. В комплект пробоподготовки могут входить держатели, проводящие материалы и установки нанесения покрытия. Приёмочные изображения получают на согласованных образцах с записанными режимами.
KYKY EM8300: электронная микроскопия
Параметры изображения и аналитические опции уточняют для конкретной конфигурации и образца.
Оригинальная публикация Ликлаб / Вернуться к разделу
Карточки моделей и артикулов (1)
Исполнения и позиции указателя (5)
Обозначения приведены по указателю каталога. Характеристики конкретного исполнения проверяют по его документации.
- Вакуумная технологическая установка KYKY SBC-12 · ионное напыление — указатель, стр. 284
- Вакуумная технологическая установка KYKY SBC-2 — указатель, стр. 284
- Вакуумная установка ионного напыления KYKY SBC-12 · ионное напыление — указатель, стр. 284
- Вакуумная установка ионного напыления KYKY SBC-2 — указатель, стр. 284
- Многофункциональная установка подготовки поверхности образцов KYVAC SBC-2 — указатель, стр. 284
Документация и происхождение данных
Источники: Каталог Ликлаб 2026, стр. 84, 85, 86. Данные относятся к указанному исполнению и условиям измерения.